产品分类 更多>>
铝膜测厚仪 铝膜包装测厚
产品介绍
随着新型包装材料发展,要求阻透性薄膜上真空沉积大约35NM的铝涂敷层，因而极大提高了薄膜对气体的阻透性，这是因为气体和芳香都不会在金属中相溶，金属层的存在也能保护包装物，使其避光，铝膜的厚度直接影响膜阻透性。因此，测试和控制铝膜厚度就显得尤为重要，AT-LM型测厚仪广泛应用软包装行业中,而且测试方便迅速。
技术参数
量程范围： 0-1000埃
分辨率： 10埃
测量准确度： ≤±3%（F.S）
读数重现性（同一测试点）： 30埃
应用对象 ： 软包装新材料
注：1微米＝1000纳米＝10000埃
