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CH-1-S型薄膜测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）。本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。
技术参数：
1、量 程：0-1mm 2、分 度 值：0.001mm
3、上测头曲率半径：15-50mm4、测头对试样施加负荷我：0.1-0.5N
5、测量精度：100μm以内＜1μm
100-250μm＜2μm
250μm＜3μm
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